2022-04-21

Исследователи демонстрируют микроскопию сверхвысокого разрешения без меток

Исследователи разработали новый подход к измерению и визуализации, который может разрешать наноструктуры размером меньше дифракционного предела света без использования каких-либо красителей или меток. Работа представляет собой важный шаг вперед к новому и мощному методу микроскопии, который однажды можно будет использовать для того, чтобы увидеть мелкие детали сложных образцов, выходящие за рамки того, что возможно с помощью обычных микроскопов и методов.

Исследователи разработали новый подход к измерению и визуализации, который может разрешать наноструктуры размером меньше дифракционного предела света. После того как свет взаимодействует с образцом, новый метод измеряет интенсивность света, а также другие параметры, закодированные в световом поле. Авторы и права: Йорг С. Эйсманн, Университет Граца.

Новый метод, описанный в журнале Optica, представляет собой модификацию лазерной сканирующей микроскопии, в которой для освещения образца используется сильно сфокусированный лазерный луч. Исследователи расширили этот метод, измеряя не только яркость или интенсивность света после его взаимодействия с исследуемым образцом, но и обнаруживая другие параметры, закодированные в световом поле.

«Наш подход может помочь расширить инструментарий микроскопии, используемый для изучения наноструктур в различных образцах», — сказал руководитель исследовательской группы Питер Банцер из Университета Граца в Австрии. «По сравнению с методами сверхвысокого разрешения, основанными на аналогичном подходе к сканированию, наш метод является полностью неинвазивным, то есть не требует введения каких-либо флуоресцентных молекул в образец перед визуализацией».

Исследователи показывают, что они могут измерять положение и размеры наночастиц золота с точностью до нескольких нанометров, даже когда несколько частиц соприкасаются.

«Наш новый подход к лазерной сканирующей микроскопии может сократить разрыв между обычными микроскопами с ограниченным разрешением и методами сверхвысокого разрешения, которые требуют модификации исследуемого образца», — сказал Банзер.

Захват большего от света

В лазерной сканирующей микроскопии световой луч сканируется по образцу и измеряется прошедший, отраженный или рассеянный свет, исходящий от образца. Хотя большинство методов микроскопии измеряют интенсивность или яркость света, исходящего от образца, большое количество информации также хранится в других характеристиках света, таких как его фаза, поляризация и угол рассеяния. Чтобы получить эту дополнительную информацию, исследователи изучили пространственное разрешение информации об интенсивности и поляризации.

«Фаза и поляризация света вместе с его интенсивностью изменяются в пространстве таким образом, что включают в себя мелкие детали об образце, с которым он взаимодействует — так же, как тень объекта говорит нам что-то о форме самого объекта», — сказал он. Банзер. «Однако большая часть этой информации игнорируется, если после взаимодействия измеряется только общая мощность света».

Они продемонстрировали новый подход, используя его для изучения простых образцов, содержащих металлические наночастицы разных размеров. Они сделали это, просканировав интересующую область, а затем записав поляризационные и угловые изображения проходящего света. Измеренные данные были оценены с использованием алгоритма, который создает модель частиц, которая автоматически адаптируется, чтобы максимально точно походить на измеренные данные.

«Хотя частицы и расстояния до них были намного меньше предела разрешения многих микроскопов, наш метод смог их разрешить», — сказал Банзер. «Кроме того, что еще более важно, алгоритм смог предоставить другие параметры образца, такие как точный размер и положение частиц».

В настоящее время исследователи работают над адаптацией метода, чтобы его можно было использовать с более сложными образцами. Функциональность подхода также может быть расширена за счет адаптации структуры света, взаимодействующего с образцом, и включения подходов на основе искусственного интеллекта в этапы обработки изображения. Что касается обнаружения, то авторы вместе с другими экспертами в настоящее время разрабатывают специальную камеру в рамках европейского проекта под названием SuperPixels. Это устройство обнаружения следующего поколения будет способно разрешать информацию о поляризации и фазе в дополнение к интенсивности.

«Наше исследование — еще одна демонстрация ключевой роли, которую структура света может играть в области оптики и световых технологий», — сказал Банзер. «Многие интересные приложения и явления уже были продемонстрированы, но это еще не все».



PhysReal • Физическая реальность

Администрация не несет ответственности за достоверность информации, опубликованной в рекламных объявлениях. Материалы, опубликованные в блогах, отражают позиции их авторов, которые могут не совпадать с мнением редакции. Использование публикаций сайта разрешается при наличии прямой ссылки на PhysReal.
Контактный E-mail:

Telegram: https://t.me/physreal
ВКонтакте: https://vk.com/physreal
RSS (XML): Новости физики

Copyright © 2022 Development by Programilla.com