
Новая модель для интерферометрии с усилением микросфер
В новой статье, опубликованной в журнале Light: Advanced Manufacturing, группа ученых во главе с профессором Питером Леманном из Университета Касселя разработала новую модель для моделирования микроскопических изображений в интерференционной микроскопии с усилением микросфер.