Разработаны новые методы определения характеристик легких элементов
В опубликованной сегодня статье в Nano Letters, физики дали неожиданный толчок исследователям благодаря новой методике трехмерного наномасштабного элементного анализа для систем ионно-электронных микроскопов, которая позволяет научному сообществу вывести свою работу на новый уровень, особенно в области хранение энергии и устойчивость. Новый метод предлагает разрешение 15 нанометров, что является значительным улучшением по сравнению с разрешением в 1 микрон электронного метода EDX. Кроме того, он может обнаруживать трудно охарактеризованные элементы, такие как водород и литий.