Исследователи демонстрируют микроскопию сверхвысокого разрешения без меток
Исследователи разработали новый подход к измерению и визуализации, который может разрешать наноструктуры размером меньше дифракционного предела света без использования каких-либо красителей или меток. Работа представляет собой важный шаг вперед к новому и мощному методу микроскопии, который однажды можно будет использовать для того, чтобы увидеть мелкие детали сложных образцов, выходящие за рамки того, что возможно с помощью обычных микроскопов и методов.