Измерение положения левитирующей наночастицы посредством интерференции с ее зеркальным отражением
Левитирующие наночастицы являются многообещающими инструментами для обнаружения сверхслабых сил биологического, химического или механического происхождения и даже для проверки основ квантовой физики. Однако такие приложения требуют точного измерения положения. Исследователи из отдела экспериментальной физики Университета Инсбрука, Австрия, продемонстрировали новый метод, повышающий эффективность определения положения субмикронного левитирующего объекта.