
Хотя электронная микроскопия уже может выявить детали размером до одного нанометра, текущие исследования направлены на преодоление барьеров, ограничивающих качество изображения и снижающих оптическую дозу на образцах. Аберрация — распространенная проблема в электронной микроскопии, которая может снизить разрешение и качество получаемых изображений. Был разработан и протестирован новый алгоритм создания фантомных изображений, обнаружив, что можно создавать изображения с улучшенным разрешением и контрастностью, используя освещение с более низким потоком, что может уменьшить повреждение образца. Исследование было опубликовано 21 декабря в журнале Intelligent Computing.