Новый способ измерения свойств поверхностного слоя материала
Физики из Техасского университета в Арлингтоне разработали новую методику, позволяющую измерять свойства самого верхнего атомного слоя материалов без включения информации из нижележащих слоев. Исследователи из лаборатории позитронов физического факультета UTA использовали процесс, называемый оже-опосредованным прилипанием позитронов (AMPS), для разработки нового спектроскопического инструмента для селективного измерения электронной структуры поверхности материалов.