Для понимания поведения электрического заряда на микроскопическом уровне представлен новаторский подход, который позволяет визуализировать движение заряда на уровне нанометра, или одной миллиардной доли метра, но на скоростях, в тысячи раз превышающих традиционные методы. Для достижения этой возможности был использован сканирующий зондовый микроскоп, оснащенный автоматизированной системой управления, которая обеспечивала уникальную спиральную структуру для эффективного сканирования, а также передовые методы компьютерного зрения для анализа данных. Быстрое и тщательное представление процессов, демонстрируемое новым подходом, ранее было недостижимо.