Исследования новых материалов показывают трансформации на атомном уровне

В новом исследовании, опубликованном в журнале Nature, под руководством профессора Гуанвэнь Чжоу из Колледжа инженерии и прикладных наук Томаса Дж. Уотсона, факультета машиностроения и программы материаловедения Бингемтонского университета, используется просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), чтобы заглянуть в превращение металла в металл на атомарном уровне. Особый интерес представляют дислокации несоответствия, которые всегда присутствуют на границах раздела в многофазных материалах и играют ключевую роль в определении структурных и функциональных свойств.

Новые зонды для трехмерной атомно-силовой микроскопии

Группа исследователей из Лаборатории передовых микрофлюидов и микроустройств Нью-Йоркского университета в Абу-Даби (AMMLab) разработала новый тип зондов для атомно-силовой микроскопии (АСМ) в настоящих трехмерных формах, которые они называют 3DTIP. Технология АСМ позволяет ученым наблюдать, измерять и манипулировать образцами, микро- и нанообъектами с беспрецедентной точностью.

Исследование электронов с помощью традиционного сканирующего микроскопа

Физики из Университета Фридриха-Александра в Эрлангене-Нюрнберге (FAU) разработали структуру, которая позволяет ученым наблюдать взаимодействие между светом и электронами с помощью традиционного сканирующего электронного микроскопа. Процедура значительно дешевле, чем технология, которая использовалась до сих пор, а также позволяет проводить более широкий спектр экспериментов. Исследователи опубликовали свои выводы в журнале Physical Review Letters.

Терагерцовая микроскопия ближнего поля на основе воздушно-плазменной динамической апертуры

В новой статье, опубликованной в журнале Light: Science & Applications, группа ученых во главе с профессорами Синь-ке Ван и Ян Чжан из Пекинской ключевой лаборатории метаматериалов и устройств, ключевой лаборатории терагерцовой оптоэлектроники Министерства образования, факультета физики, столицы Нормальный университет, Пекин, Китай, и его коллеги разработали новую микроскопию ближнего поля ТГц для получения изображений в субволновом диапазоне ТГц без приближения к образцу с помощью каких-либо устройств.

Исследователи демонстрируют микроскопию сверхвысокого разрешения без меток

Исследователи разработали новый подход к измерению и визуализации, который может разрешать наноструктуры размером меньше дифракционного предела света без использования каких-либо красителей или меток. Работа представляет собой важный шаг вперед к новому и мощному методу микроскопии, который однажды можно будет использовать для того, чтобы увидеть мелкие детали сложных образцов, выходящие за рамки того, что возможно с помощью обычных микроскопов и методов.

Вращающийся синий лазерный луч показывает динамику живых клеток

Новый подход, разработанный профессором доктором Александром Рорбахом и его командой в Лаборатории био- и нанофотоники Фрайбургского университета, нашел способ сделать мельчайшие объекты четко видимыми без флуоресценции. Таким образом, клеточные структуры или частицы размером с вирус можно наблюдать в 100–1000 раз дольше, в 10–100 раз быстрее и с почти удвоенным разрешением по сравнению с флуоресцентной микроскопией.