Новый метод спектроскопии улучшает обнаружение микроэлементов в жидкости
Как сообщается в Advanced Photonics Nexus, исследователи недавно объединили FIBS (спектроскопия разрушения нитей) и GIBS (спектроскопия пробоя, вызванная плазменной решеткой) в качестве эффективного метода чувствительного обнаружения следов металлов в жидкости. Они продемонстрировали сочетание сильных нелинейных взаимодействий нитей (компланарных и неколлинеарных) с различными плазменными решетками для достижения технического новшества, названного «F-GIBS» (спектроскопия разрушения, вызванная нитями и плазменными решетками). F-GIBS был реализован с использованием струй жидкости для анализа водных растворов.